可靠性環(huán)境試驗(yàn)箱GT-TH-S-225Z
可靠性環(huán)境試驗(yàn)箱
產(chǎn)品名稱(chēng)： 可靠性環(huán)境試驗(yàn)箱
產(chǎn)品型號(hào)：GT-TH-S-225Z工作室尺寸:500×750×600mm （W×H×D）
可靠性環(huán)境試驗(yàn)箱
符合標(biāo)準(zhǔn)：GB2423.1-89低溫試驗(yàn)方法、GB2423.2-89高溫試驗(yàn)方法、GB2423-93試驗(yàn)D6交變濕熱試驗(yàn)方法、IEC68-2-30試驗(yàn)方法。
可靠性環(huán)境試驗(yàn)箱溫濕度范圍：
溫度: -40℃～150℃（可任意設(shè)定）
濕度: 30%～98%RH （可任意設(shè)定）
可靠性環(huán)境試驗(yàn)箱的主要參數(shù)：
解析精度：溫度：±0.1℃ 濕度：±0.1%
控制精度：溫度:±0.3℃ 濕度：±1.5%RH
分布精度：溫度: ±1.0℃ 100℃～150℃時(shí):±1.5℃ 濕度：+2.0/-3.0%RH
可靠性環(huán)境試驗(yàn)箱升降溫速度：
1. 常溫→150℃ 約35分鐘（非線(xiàn)性空載約3℃/分鐘
2. 常溫→-40℃ 約55分鐘（非線(xiàn)性空載約1℃/分鐘）
